納米顆粒的粒度及其分布是表征其性能的主要參數，因此對納米顆粒粒度的準確測量具有重要意義。

馬爾文帕納科納米粒度電位儀ZetasizerUltra是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統，在結合了ZetasizerPro和Lab所有特性和優點的基礎上，增加了多角度動態光散射技術（MADLS®），是Zetasizer Advance系列中更智能和靈活的儀器。

ZetasizerUltra融合了功能強大的DLS與ELS系統，它采用了非侵入背散射(NIBS)和*的多角動態光散射(MADLS)技術來測量顆粒與分子大小。NIBS的多用性和靈敏度可適用廣泛的濃度范圍，而MADLS則能讓您在這些關鍵測量當中更精細地了解樣品粒度分布。

優點包括：
1、用于高分辨率粒度測量且與角度無關的多角動態光散射法(MADLS)可以更深入地展現您的樣品粒度分布
2、動態光散射(DLS)用于測量從0.3nm到15µm的顆粒和分子的粒度及粒度分布（使用低容量可拋棄粒度樣品池和擴展粒度分析可以測試粒度大于10µm；取決于樣品和樣品制備）
3、電泳光散射(ELS)用于測量顆粒和分子的Zeta電位，以顯示樣品穩定性和/或團聚傾向性
4、非侵入背散射(NIBS)技術顯著擴大了動態范圍，即使是處理非常濃縮的樣品，也能實現高靈敏度
5、簡單的每峰值濃度/滴度測量（僅限紅標RedLabel版本）
6、可拋棄型毛細管粒度測量樣品池提供了無損、低容量（*3µL）分析，并且粒度上限范圍可達到15μm
7、具有恒流模式的M3-PALS可以在高導電介質中測量Zeta電位和電泳遷移率
8、以樣品為中心的ZSXplorer軟件可以實現靈活的指導式使用，并可輕松構建復雜的模型
9、“自適應相關”算法能生成可靠且可重復的數據，同時計算速度超過以往的兩倍，可在減少樣品制備的情況下更快速地執行更多可重現的粒度測量，實現更具代表性的樣品視圖
10、通過深度學習實現的數據質量系統可以評估粒度數據質量問題，并針對如何改進結果提供明確的建議
11、使用靜態光散射（90°）測量分子量
12、軟件符合21CFRPart11法規
13、濾光片轉盤提供熒光濾光片以及垂直和水平偏振片，以實現分析靈活性
14、可選的MPT-3自動滴定儀可幫助研究pH值變化的影響
15、一系列可拋棄和可重復使用的樣品池可優化不同樣品體積和濃度的測量，其中包括新的低容量可拋棄粒度測量池套件，由于它可以抑制對流，所以既能進行樣品量小到3µL的粒度測量，也擴展了DLS測量的粒度上限范圍。