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激光粒度分布儀是一種基于激光散射原理的高精度顆粒分析儀器，主要用于測量和分析顆粒的大小分布，廣泛應用于粉末冶金、陶瓷、化工、醫藥、食品、環保、納米材料等多個領域。其利用激光照射被測顆粒群，顆粒會使激光產生衍射和散射現象，散射光能的空間（角度）分布與顆粒大小直接相關。大顆粒散射光角度小、強度高，小顆粒散射光角度大、強度弱。通過測量散射光的角度分布和強度，結合Mie散射理論或Fraunhofer衍射模型，可反推出顆粒的粒徑分布。激光粒度分布儀廣泛應用于多個行業領域。以下是其具體應...

工業衍射儀是材料科學、工業生產及質量控制領域不可少的精密分析儀器，其核心功能是通過X射線與物質相互作用產生的衍射現象，解析材料的晶體結構、物相組成及微觀缺陷信息。該技術基于布拉格定律（2dsinθ=nλ），當單色X射線以特定角度θ照射晶體時，若滿足晶面間距d與波長λ的幾何關系，則會在特定方向產生衍射增強信號，形成特征衍射圖譜。工業衍射儀的安裝指南：一、安裝前準備1.場地選址要求空間：預留足夠操作與維護空間（通常主機尺寸約800×600×1200mm，還需前后左右各≥50cm操...

激光粒度分布儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒分析儀器，通過測量顆粒對激光的散射特性，反推顆粒的粒徑分布，廣泛應用于材料科學、制藥、化工、環境監測、食品加工等領域。其核心優勢在于非接觸式測量、寬檢測范圍（0.01μm-3000μm）、快速分析（數秒至數分鐘）及高重復性，是顆粒表征的關鍵工具。激光粒度分布儀的工作原理基于米氏散射理論（MieTheory）和夫瑯禾費衍射理論（FraunhoferDiffraction）。當激光束照射樣品時，顆粒會散射光線，散射光的角度和強度與顆粒...

粉末衍射儀是一種基于X射線衍射原理的高精度分析儀器，主要用于晶體物質的定性與定量分析、物相結構研究及材料性能表征。其核心原理是利用X射線照射樣品時，晶體中規則排列的原子使X射線發生衍射，形成特定角度的衍射峰，通過分析這些峰的位置、強度及分布，可獲取晶體的晶格參數、晶胞對稱性、原子排列方式等關鍵信息。粉末衍射儀由X射線發生器、測角儀、探測器及控制系統組成。X射線發生器產生高穩定性的X射線束，功率可達3kW，確保信號強度；測角儀采用θ/θ掃描或立式結構，角度精度高達0.0001°...

2025年3月，鎵仁半導體發布全球首顆第四代半導體氧化鎵8英寸單晶，并加工出8英寸襯底，刷新了氧化鎵單晶尺寸的全球紀錄。中國氧化鎵率先進入8英寸時代，率先突破8英寸技術壁壘，不僅標志著中國在超寬禁帶半導體領域的技術進步，更為氧化鎵產業在全球半導體競爭中搶占了先機。馬爾文帕納科專為半導體行業打造的高分辨X射線衍射儀——X'Pert3MRD(XL)，以其出色的分析能力和針對性的解決方案，備受全球化合物半導體制造商的認可，為客戶的研發創新和產品質量控制提供強有力的支持。多方檢測結果...