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馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽的 Mastersizer 3000硬件平臺上,進一步優化性能,增加了多項智能輔助功能,讓設備更易用,結果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發和檢測技術的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統,在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上,增加了多角度動態...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
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激光粒度分布儀是一種基于激光散射原理的高精度顆粒分析儀器,主要用于測量和分析顆粒的大小分布,廣泛應用于粉末冶金、陶瓷、化工、醫藥、食品、環保、納米材料等多個領域。其利用激光照射被測顆粒群,顆粒會使激光產生衍射和散射現象,散射光能的空間(角度)分布與顆粒大小直接相關。大顆粒散射光角度小、強度高,小顆粒散射光角度大、強度弱。通過測量散射光的角度分布和強度,結合Mie散射理論或Fraunhofer衍射模型,可反推出顆粒的粒徑分布。激光粒度分布儀廣泛應用于多個行業領域。以下是其具體應...
工業衍射儀是材料科學、工業生產及質量控制領域不可少的精密分析儀器,其核心功能是通過X射線與物質相互作用產生的衍射現象,解析材料的晶體結構、物相組成及微觀缺陷信息。該技術基于布拉格定律(2dsinθ=nλ),當單色X射線以特定角度θ照射晶體時,若滿足晶面間距d與波長λ的幾何關系,則會在特定方向產生衍射增強信號,形成特征衍射圖譜。工業衍射儀的安裝指南:一、安裝前準備1.場地選址要求空間:預留足夠操作與維護空間(通常主機尺寸約800×600×1200mm,還需前后左右各≥50cm操...
激光粒度分布儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒分析儀器,通過測量顆粒對激光的散射特性,反推顆粒的粒徑分布,廣泛應用于材料科學、制藥、化工、環境監測、食品加工等領域。其核心優勢在于非接觸式測量、寬檢測范圍(0.01μm-3000μm)、快速分析(數秒至數分鐘)及高重復性,是顆粒表征的關鍵工具。激光粒度分布儀的工作原理基于米氏散射理論(MieTheory)和夫瑯禾費衍射理論(FraunhoferDiffraction)。當激光束照射樣品時,顆粒會散射光線,散射光的角度和強度與顆粒...
粉末衍射儀是一種基于X射線衍射原理的高精度分析儀器,主要用于晶體物質的定性與定量分析、物相結構研究及材料性能表征。其核心原理是利用X射線照射樣品時,晶體中規則排列的原子使X射線發生衍射,形成特定角度的衍射峰,通過分析這些峰的位置、強度及分布,可獲取晶體的晶格參數、晶胞對稱性、原子排列方式等關鍵信息。粉末衍射儀由X射線發生器、測角儀、探測器及控制系統組成。X射線發生器產生高穩定性的X射線束,功率可達3kW,確保信號強度;測角儀采用θ/θ掃描或立式結構,角度精度高達0.0001°...