納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的物理性能測(cè)試儀器，通過(guò)追蹤納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)和光散射特性，實(shí)現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)測(cè)量。該儀器利用激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，捕捉納米顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)軌跡。通過(guò)分析顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程，計(jì)算其流體力學(xué)直徑，精度可達(dá)4nm。同時(shí)，支持熒光檢測(cè)功能，可識(shí)別熒光標(biāo)記顆粒，實(shí)現(xiàn)多參數(shù)同步分析。

　　以下是納米顆粒跟蹤分析儀其主要結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：

　　一、高精度光學(xué)系統(tǒng)：實(shí)現(xiàn)單顆粒可視化

　　光學(xué)系統(tǒng)是NTA的核心，需滿足“清晰觀察納米級(jí)顆粒”并“避免多重散射干擾”的需求，特點(diǎn)如下：

　　光源：窄光束、低相干性

　　通常采用半導(dǎo)體激光器（如488 nm、640 nm），輸出光束經(jīng)聚焦后形成極細(xì)的圓柱形激光束（直徑約50-100μm），僅照亮樣品池中的薄層區(qū)域（減少背景干擾和多重散射）。

　　低相干性光源可降低顆粒散射光的干涉效應(yīng)，使單個(gè)顆粒呈現(xiàn)為清晰的“亮點(diǎn)”，便于識(shí)別和追蹤。

　　成像物鏡：高數(shù)值孔徑（NA）

　　配備高倍顯微物鏡（如40×、60×），且數(shù)值孔徑（NA）較高（通常0.8-1.2），以增強(qiáng)對(duì)納米顆粒散射光的收集能力，確保小至10 nm的顆粒仍能被清晰成像。

　　物鏡與激光束同軸或呈特定角度（如90°散射角），避免直射光干擾，僅接收顆粒的側(cè)向散射光。

　　二、樣品池：適配微量樣品，減少顆粒沉降與團(tuán)聚

　　樣品池設(shè)計(jì)需滿足“低體積需求”“減少顆粒運(yùn)動(dòng)干擾”和“便于清潔”的特點(diǎn)：

　　微量樣品容量

　　樣品池體積通常為10-200μL，適用于珍貴或低濃度樣品（如生物納米顆粒、外泌體），且可通過(guò)注射器或移液槍快速更換。

　　低擾動(dòng)流場(chǎng)

　　池體多為石英或玻璃材質(zhì)，內(nèi)壁光滑，減少顆粒吸附；部分設(shè)計(jì)包含攪拌裝置（如磁力攪拌子）或輕微流動(dòng)系統(tǒng)，避免顆粒因重力沉降導(dǎo)致的分布不均，但需保證擾動(dòng)強(qiáng)度不影響顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)（NTA的核心測(cè)量依據(jù)）。

　　溫控功能（可選）

　　部分高d型號(hào)配備溫控模塊（如20-40℃），可維持樣品溫度穩(wěn)定，避免溫度變化導(dǎo)致的液體粘度改變（粘度影響顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度，進(jìn)而影響尺寸計(jì)算）。

　　三、成像與追蹤系統(tǒng)：捕捉顆粒動(dòng)態(tài)軌跡

　　該系統(tǒng)負(fù)責(zé)將光學(xué)信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字圖像，并實(shí)時(shí)追蹤單個(gè)顆粒的運(yùn)動(dòng)，特點(diǎn)如下：

　　高速相機(jī)：高幀率、低噪聲

　　采用電荷耦合器件（CCD）或互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體（CMOS）相機(jī)，幀率通常為25-100幀/秒，可捕捉納米顆粒因布朗運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的快速位移（顆粒越小，運(yùn)動(dòng)越劇烈，需更高幀率）。

　　低噪聲傳感器確保在弱散射光下（小顆粒信號(hào)弱）仍能區(qū)分顆粒與背景噪聲。

　　同步控制模塊

　　激光、相機(jī)與數(shù)據(jù)采集單元同步工作，確保每幀圖像的時(shí)間間隔精確（如10 ms/幀），為后續(xù)計(jì)算顆粒擴(kuò)散系數(shù)（進(jìn)而推導(dǎo)尺寸）提供準(zhǔn)確的時(shí)間基準(zhǔn)。

　　四、數(shù)據(jù)處理單元：從軌跡到顆粒特性的量化

　　硬件上通常為連接相機(jī)的計(jì)算機(jī)，核心是專用NTA分析軟件，其功能體現(xiàn)結(jié)構(gòu)與算法的結(jié)合：

　　顆粒識(shí)別與軌跡追蹤

　　軟件通過(guò)圖像分析算法（如閾值分割、邊緣檢測(cè)）識(shí)別單幀圖像中的顆粒亮點(diǎn)，再通過(guò)多幀匹配（如基于距離和運(yùn)動(dòng)連續(xù)性）追蹤同一顆粒在不同時(shí)間點(diǎn)的位置，生成運(yùn)動(dòng)軌跡。

　　統(tǒng)計(jì)分析與結(jié)果輸出

　　對(duì)數(shù)百至數(shù)千個(gè)顆粒的尺寸進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，生成粒徑分布直方圖、濃度（顆粒數(shù)/體積）等結(jié)果，并可通過(guò)軟件校準(zhǔn)（如使用標(biāo)準(zhǔn)顆粒驗(yàn)證尺寸準(zhǔn)確性）。

　　五、整體結(jié)構(gòu)的集成性：兼顧操作性與穩(wěn)定性

　　光學(xué)模塊、樣品池和成像系統(tǒng)通常集成在一個(gè)緊湊的主機(jī)內(nèi)，減少外界振動(dòng)和光線干擾；部分型號(hào)設(shè)計(jì)為開放式樣品臺(tái)，便于觀察和調(diào)整。

　　操作界面簡(jiǎn)潔，支持自動(dòng)化參數(shù)優(yōu)化（如曝光時(shí)間、增益），降低人為操作誤差，同時(shí)允許高級(jí)用戶手動(dòng)調(diào)整參數(shù)以適應(yīng)復(fù)雜樣品（如高濃度、多分散體系）。