X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。

　　X射線衍射儀的技術特點主要體現在以下幾個方面：

　　1、高穩定度X射線源：提供測量所需的X射線，通過改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長，調節陽極電壓可控制X射線源的強度。現代粉末衍射儀的光源穩定性一般在外電源變化10%以內，輸出變化0.01%以內。

　　2、樣品及樣品位置取向的調整機構系統：樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊，通過樣品臺和相關裝置調整樣品的位置和取向，以滿足不同的測試需求。

　　3、射線檢測器：檢測衍射強度或同時檢測衍射方向，通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。檢測器的種類多樣，如NaI（Tl）閃爍計數器、正比計數器、半導體陣列檢測器等，各有其優缺點，適用于不同的應用場景。

　　4、衍射圖的處理分析系統：現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計算機系統，具有自動化和智能化的特點，可以快速、準確地處理衍射數據，得到物相信息、晶體結構、晶胞參數等結果。

　　5、高精度測量：能夠精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析等。例如，在物相分析中，可以通過與已知標準物質的衍射數據對比，確定樣品中存在的物相；在點陣參數測定中，可用于相圖的固態溶解度曲線的測定、固溶體類型的確定以及熱膨脹系數等物理常數的計算。

　　6、無損試樣：對試樣進行測試時不會對試樣造成損傷，保持了試樣的完整性，使得測試后的樣品還可以進行其他后續測試或進一步的研究。