X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用的儀器，通過衍射現象揭示物質的晶體結構和晶體學信息。它廣泛應用于材料科學、晶體學、結構分析和固體物理學等領域。其原理基于X射線與物質的相互作用。當X射線通過晶體或非晶體材料時，會發生衍射現象，即X射線的波動性導致它們在材料中被散射和干涉。X射線衍射儀利用探測器記錄衍射X射線的強度和角度信息，并通過衍射圖樣的分析，推斷出物質的晶體結構和晶體學參數。

　　X射線衍射儀的主要作用：

　　1、物相分析：能夠區分晶體和非晶體物質，并通過比較未知樣品的衍射數據與已知晶體的標準數據，確定樣品的物相組成。

　　2、結晶度測定：對于部分結晶的聚合物或其他材料，可以測定結晶度，即結晶部分與非結晶部分的比例，這對于理解材料的物理性質至關重要。

　　3、應力分析：在材料科學中，殘余應力會影響材料的性能。可以通過測量衍射峰的位移來確定材料內部的應力狀態。

　　4、晶體結構分析：X射線衍射儀是研究晶體結構的重要工具，能夠提供關于晶胞尺寸、對稱性、原子位置等詳細信息。

　　5、納米材料分析：隨著納米技術的發展，在分析納米粒子的大小、形狀和分布方面發揮著越來越重要的作用。

　　6、薄膜分析：在半導體工業和涂層技術中，用于分析薄膜的晶體質量和界面結構。

　　7、環境樣本分析：可以用于分析土壤、沉積物、大氣顆粒物等環境樣本中的礦物成分和晶體結構。

　　8、文化遺產分析：在考古學和藝術保護領域，用于分析古代文物和藝術品的材料組成和退化過程。