X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生*的衍射圖譜。

X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測(cè)對(duì)象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結(jié)構(gòu)。多晶衍射儀也被稱為粉末衍射儀，被測(cè)對(duì)象通常為粉末、多晶體金屬或高聚物等塊體材料。多晶體衍射儀主要由以下4部分構(gòu)成：

（1）X射線發(fā)生器 —— 產(chǎn)生X射線的裝置；

X射線發(fā)生器由X射線管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩(wěn)定電路以及各種保護(hù)電路等部分組成。

 

（2）測(cè)角儀 —— 測(cè)量角度2θ的裝置；

測(cè)角儀是X射線衍射儀測(cè)量中核心部分，用來(lái)精確測(cè)量衍射角。

（3）X射線探測(cè)器 —— 測(cè)量X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)裝置；

計(jì)數(shù)器的主要功能是將X射線光子的能量轉(zhuǎn)換成電脈沖信號(hào)。通常用于X射線衍射儀的輻射探測(cè)器有正比計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器和位敏正比探測(cè)器。

 

（4）X射線系統(tǒng)控制裝置 —— 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)和各種電氣系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)。

X射線能對(duì)人體組織造成傷害，在自己做好防護(hù)措施的同時(shí)也要確保防護(hù)系統(tǒng)的安全性。對(duì)設(shè)備要定期進(jìn)行檢查維護(hù)，操作者要學(xué)習(xí)射線防護(hù)知識(shí)，同時(shí)也要接受射線職業(yè)健康檢查。