X射線衍射儀是對物質和材料的組成和原子級結構進行研究和鑒定的基本手段。X射線衍射儀對單晶、多晶和非晶樣品進行結構參數分析，如物相鑒定和定量分析、室溫至高溫段的物相分析、晶胞參數測定（晶體結構分析）、多晶X-射線衍射的指標化以及晶粒尺寸和結晶度的測定等。可地測定物質的晶體結構，如：物相定性與定量分析，衍射譜的指標化及點陣參數。

 

應用范圍：

 

工業用X射線衍射儀在當今科技領域里用來分析各種物質成分結構的測試儀器已得到了廣泛的應用。對材料學、物理學、化學、地質、環境、納米材料、生物等領域來說，X射線衍射儀都是物質表征和質量控制*的方法。XRD能分析晶體材料諸如產業廢棄物、礦物、催化劑、功能材料等的相組成分析，大部分晶體物質的定量、半定量分析；晶體物質晶粒大小的計算；晶體物質結晶度的計算等。

 

使用范圍：

 

金屬材料：半導體材料、合金、超導材料、粉末冶金材料；無機材料：陶瓷材料、磁性材料、催化劑、礦物、水泥、玻璃；復合材料：碳纖維、纖維大分子、工業廢棄物；有機材料：醫藥品、工程塑料、各種樹脂等。